半导体物理学

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半导体基础物理学目录:

  • Semiconductor materials and their properties
    • Semiconductor
      • Charge Carriers
      • Doping
      • Transport of Carriers
    • PN Junction
      • Structure
      • Reverse and Forward Bias Conditions
      • I/V Characteristics
      • Circuit Models

Semiconductor

Charge Carriers:

化学方面暂时不去了解,只要知道温度变化下的自由电子密度就行了

Free Electron Density

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Doping(掺杂):

Si 掺杂了 P(磷) 则会变成 N type 电子(Electron)

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Si 掺杂了 B(硼) 则会有更多的空穴或变成 P type 电子

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Electron and Hole Densities(电子和空穴的密度)

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电子和空穴的密度的乘积 **总是等于 **本征电子密度的平方

  • n 是电子密度, p是空穴密度, ni是本征电子密度

Transport of Carriers(载体的传输):

  • Drift(漂移):
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带电粒子(Charge particles)因电场(Electric field)而移动的过程称为漂移(Drift)。

带电粒子(Charge particles)将以电场(Electric field)成比例(proportional)的速度(Velocity)移动

Vh 和 Ve 分别是空穴和电子在电场的移动速度

  • 电流流动:通常情况
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如果电荷(Charge travle)以 v m/s 的速度行进,则电流计算为通过(thru)横截面(cross-section)的以 v 米为单位的电荷量(amount of charge)。

  • 电流流动: 漂移
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由于速度等于 μE,漂移特性是通过在通用电流方程中用 μE 代替 V 获得的。

总电流密度由电子和空穴组成

J为电流密度

  • Velocity Saturation(速度饱和度)
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在更高级的课程中讨论的主题是速度饱和

实际上,速度不会随电场线性增加(Linearly increase)。 它最终会饱和(saturate)到一个临界值(critical value)。

  • 二次电荷输送机构: 扩散(diffusion)
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**带电粒子(Charge particles)从高浓度区域(region of high concentration)移动到低浓度区域(region of low concentration)**,类似于日常生活中的水墨滴纸。

  • 电流流动: 扩散(Diffusion)
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扩散电流与沿电流方向的电荷梯度(gradient of charge)(dn/dx)成正比(proportional).

  • 线性与非线形电荷密度(Charge Density)分布:
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线性电荷密度分布意味着恒定的(constant)扩散电流,而非线性电荷密度分布意味着变化的(varying)扩散电流

  • 爱因斯坦关系(Einstein’s relation)
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虽然漂移和扩散电流背后的物理学完全不同,但爱因斯坦的关系提供了两者之间的神秘联系。

D为 Diffusion,μ 为Drift.

PN junction(Diode)(PN结(二极管))

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当半导体中并排(side by side)引入**N型和P型掺杂剂(Dopants)**时,会形成PN结(PN junction)或二极管(diode)。

Cathode :阴极, Anode: 阳极。

  • 跨界点的电流(Current Flow Across Junction):扩散(Diffusion)
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因为与另一侧相比,结(Junction)的每一侧都包含过量的(excess)空穴或电子,所以存在很大的**浓度梯度(Concentration gradient)**。因此,扩散电流(Diffusion Current)从每一侧流过结(Junction).

  • 耗尽区(Depletion Region)
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当自由电子和空穴扩散穿过结时,会留下一个固定离子(Fixed ions)区域,这个区域被称为“耗尽区”(Depletion region)

  • 跨接点点电流: 漂移
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耗尽区(Depletion region)中的固定离子(Fixed ions)会产生电场(Electric field),从而产生漂移电流(Drift current)。

跨接点点电流:平衡(Equilibrium)

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在平衡时,沿一个方向流动的漂移电流(Drift Current)抵消了(Cancels out)沿相反方向(opposite direction)流动的扩散电流(Diffusion Current),产生零净电流(net current of zero)。

上图表现的是电荷分布

  • 内建电势(built-in Potential)
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由于结上的电场存在内建电势,以上为推导。

反向偏置二极管(Diode in Reverse Bias)

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当二极管的N型区域连接到比P型区域更高的电位时(Higher potential),二极管处于反向偏置状态(reverse bias),这导致更宽的(wider)耗尽区(depletion region)和更大的结内内置电场(Larger built-in electric field).

  • 反向偏置偏置二极管的应用:电压相关电容器(voltage dependent capacitor)
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PN结可以看作是一个电容器。通过改变VR,耗尽宽度改变(the depletion width change),改变其电容值(change it capacitance value);因此PN结实际上是一个电压相关的电容器。

  • 电压相关电容(Voltage-dependent capacitor)
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  • 压控振荡器(Voltage-controlled Oscillator)
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反向偏置 PN 结的一个非常重要的应用是 VCO(Voltage-controlled Oscillatior),其中 LC 谐振(LC tank)电路用于振荡器(Oscillatior)。 通过改变 VR,我们可以改变 C,这也改变了振荡频率(oscillation frequency)。

正向偏置二极管(Diode in Forward Bias)

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当二极管的N型区域的电位低于P型区域的电位时(Lower potential),二极管处于正向偏置(Forward bias)。

耗尽宽度缩短(Depletion width is shortened),内建电场减小(built-in electric field decreased)。

  • 正向偏置中的少数载波分布
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在正向偏置下,每个区域的少数载流子由于内建场/电位(built-in field/potential)的降低而增加。

因此,扩散电流增加以供应这些少数载流子。

  • 正向偏置的扩散电流
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扩散电流将增加以供应少数载流子的增加。推导如上。

  • 少数电荷梯度(Minority Charge Gradient)
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少数电荷分布(Minority charge profile)不应沿x轴保持不变;否则,没有浓度梯度,也没有扩散电流

少数载流子(minority carriers)与多数载流子(majority carriers)的重组(Recombination)导致(accounts for)少数载流子在探入(go deep into)P或N区域时下降(Dropping)。

  • 正向偏置总结
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在正向偏压中,少数载流子通过结的扩散电流很大。然而,当我们深入P和N区域时,来自多数载流子的复合电流(Recombiantion Current)占主导(dominate)地位。这两个电流加起来是一个恒定值。

PN结的IV特性

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PN结的电流和电压关系在正向偏置区呈指数(exponential)关系,而在反向偏置区则相对恒定(constant)。以上是曲线的数学表达式。

  • Parallel PN Junction(并联PN结)
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因为结电流(Junction current)与结的横截面积(Junction’s cross section area)成正比(proportional)。两个并联(parallel)的PN结实际上是一个PN结,其横截面积(cross section area)是两倍(twice),因此电流是两倍。

  • 恒压二极管模型(Constant-Voltage Diode Model)
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如果VD<VD,on** 则二极管作为开路(open circuit)运行,如果**VD>VD,on ,则二极管作为恒压源(constant voltage source)VD,on 运行。

  • 示例:二极管计算
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这个例子显示了恒压模型相对于指数模型的简单性。

对于指数(exponential)模型,需要迭代方法(iterative mathod)来求解电流,而恒压模型只需要线性方程。

反向击穿(Reverse Breakdown)

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当施加大的反向偏置电压(large reverse bias voltage)时,会发生击穿(Breakdown),并且有巨大的电流(enormous current)流过二极管。

齐纳和雪崩击穿(Zener vs. Avalanche Breakdown)

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齐纳击穿(Zener Breakdown)时耗尽区(depletion region)内的大电场将电子或空穴从其共价键(Covalent bonds)上断开(break)的结果

雪崩击穿(Avalanche Breakdown)上电子或空穴与耗尽区内的固定离子(Fixed ions)碰撞(colliding)的结果

Exercise

  • CN junction

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